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离子迁移检测仪——CAF试验

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离子迁移检测仪——CAF试验详细说明

根据IPC标准中有明确要求,测试条款为IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic ****ment (CAF) Resistance》。另外各大汽车零部件厂商如德尔福、博世、大陆等也有其专门的企业测试标准,主要测试内容就是将被测PCB板放置在85℃,85%RH的环境中处理1000小时,并在PCB板的孔与孔之间、线与线之间,或者是孔与内层之间、层与层之间施加一定的电压,然后持续监控其绝缘阻值变化,通过绝缘阻值变化了解其内部可能存在的一系列问题,而这种测试的缺陷就是板材内部出现了CAF现象。通过CAF测试可以基本了解具体是在哪个工艺环节可能产生了问题,从而进一步工艺改善。具体包括指导PCB设计人员选用合适的孔间距和线间距;指导PCB制造商选用适合的耐CAF材料组合;指导PCB制造商改进生产工艺;指导CCL供应商改进材料配方和加工工艺。

高阻系统新产品的特点 1、**通道高精度微电流测试。 2、**通道测试电流电阻,电阻超大量程测量范围在 10 的 4 次方到 10 的 14 次方。 3、实现多通道电流同时采集,实时监控测试样品离子和材料绝缘劣化过程。 4、板卡式结构,灵活配置系统通道,1 个板卡 16 通道,单系统可扩展 256 通道。 5、每个板卡一个**测试电源,可适应多批量测试条件。 6、测试电压可以扩展使用外接电压,2128cccc-795c-4ab6-9cd1-3a1b25a217bd可高达 2000V。 7、测试电压可在 1.0-500V(2000V)之间以 0.1V 步进任意可调。

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